PAM75-J1探針是一款高精度、高可靠性的測試探針，廣泛應用于電子制造和半導體測試領域，以下是對PAM75-J1探針的具體介紹：

1. 產品概述

基本參數：PAM75-J1探針屬于PM75系列，其針管由磷銅制成并鍍金，彈簧部分采用不銹鋼線，套管為黃銅管鍍金，這種設計確保了探針的高導電性和耐用性。

尺寸規格：該探針的總長度為27.8mm，直徑為1.02mm，鉆孔尺寸為1.4mm，這些規格使其適用于多種測試環境，特別是高密度電路板的測試。

2. 技術特點

額定電流與接觸電阻：PAM75-J1探針的額定電流為3安培，接觸電阻為50毫歐姆，這意味著它在高電流條件下仍能保持低電阻，確保測試的準確性和穩定性。

接觸彈力：該探針的接觸彈力為120g，這一適中的彈力能夠有效保證與被測點的穩定接觸，同時避免對被測器件造成損傷。

3. 應用領域

電子制造：在電子制造業中，PAM75-J1探針廣泛用于PCB板的ICT測試，幫助檢測開路、短路及元件缺失等問題。

半導體行業：由于其高精度和高可靠性，PAM75-J1探針也常用于半導體芯片的老化測試和功能驗證。

4. 市場優勢

品牌信譽：PAM75-J1探針由知名品牌生產，產品質量有保障，市場認可度高。

全球供應：該產品支持全球發貨，提供多種支付方式，方便用戶購買和使用。

5. 未來展望

技術創新：隨著電子技術的不斷進步，PAM75-J1探針將繼續進行技術升級，以滿足更高的測試要求和更廣泛的應用場景。

市場需求增長：預計未來幾年，全球對高精度測試探針的需求將持續增長，PAM75-J1探針的市場前景廣闊。

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